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TheTOBIAS透射比测量仪TBX2000测量ISO视觉漫反射光学密度(OD)至6.60D.较宽的测量范围允许对多种类型的材质如薄膜，层压板和基板进行评估.该设备带有一个2.00D的校准标准但有一个可选的校准标准值需要购买。此外，TBX1500还可以测量正点和负点区域；TBX2000测量不透明度百分比和透射度。数据可以通过USB端口（配件需另外采购）上传电子表格。TBX™可以显示所有函数的存储参考值的偏差。
特点：
·软键菜单操作；
·先进的光学系统，满足各行业的规格要求；
·7.5英寸平台，可测量大样本；
·读数可重复高；
·可选带通滤波器；
·USB端口标准；
·软件校准；
·可切换LED灯；
·TOBIAS透射比测量仪TBX2000非常适合测量金属薄膜的光学密度。
规格：
光学设计：ANSIPH2.19；
显示器：GraphicalLCD(128x64pixel)；
孔径：1,2,3mm；
尺寸：3(L)x9(W)x4.5(H)inches(330x229x114mm)；
长度(臂).：7.5inches(191mm)；
输出端：USB；
电源：12Vviauniversal110/220VACAdapter；
测量范围：0to6.60D；
准确度：±0.02D；
精度：±0.01D；
预热时间：None。
更多：透射比测量仪
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https://www.chem17.com/st326449/erlist_2545448.html